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产品介绍
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产品名称: | 半导体器件静电放电模拟试验器ESS-6002/6008 (日本noiseken) |
产品型号: | 产品产地: | 日本 |
访问次数: | 668 | |
半导体器件静电放电模拟试验器ESS-6002/6008 (日本noiseken)考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。 半导体元件因受静电可能发生内部配线,绝缘膜的熔断,破坏等而导致产品特性裂化,误动作的现象。 对于此静电破坏试验,只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型,机器带 |
半导体器件静电放电模拟试验器ESS-6002/6008 (日本noiseken)ESS-6002/6008 半导体器件静电放电模拟试验器
特征 考查实际上给电子设备安装半导体元件时,半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。
对应标准
规格 半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)
简易型探针台 <18-00075A>
半自动精密型探针台 <18-00076A> 由于半自动精密型探针台的*小分辨率为0.01mm,所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等极小间距的半导体进行试验
深圳市奥德赛创精密仪器有限公司的诚信、实力和产品质量获得业界的认可。 欢迎各界朋友莅临参观、指导和业务洽谈。请联系销售总监:苏曼 原创作者:深圳奥德赛创精密仪器有限公司 标签:半导体器件静电放电模拟试验器ESS-6002/6008 (日本noiseken) |
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