美国ED&D TPK试验探针

 


美国.ED&D产品服务于:IBM ，美国航空暨太空总署，英代尔，苹果， NCR ，索尼公司，太阳，飞利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托罗拉， Mattel ，戴尔,3 Com 等公司;专为UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等试验室提供检测产品.

Several different accessibility probe kits are available for specific standards. Kits can be created for other standards on request. 

Probe Kits offer substantial cost savings, not to mention added convenience ａnd portability!

Model	IEC / EN	UL	CSA
TPK-01	60950	60950	950
TPK-02	60601	2601	601
TPK-03	61010
TPK-04	60335
TPK-05	60529
TPK-06	60065	6500

原创作者：深圳奥德赛创精密仪器有限公司