NanoScan 2s Si/3.5/1.8小光束轮廓分析仪_产品展示_深圳奥德赛创精密仪器有限公司

点击放大	产品名称：	NanoScan 2s Si/3.5/1.8小光束轮廓分析仪
	产品型号：
	产品产地：	中国大陆
	访问次数：	265
	狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，，µm狭缝该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

详细内容

NanoScan 2s Si/3.5/1.8小光束轮廓分析仪

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或业软件

波长190-1100nm

光束尺寸7μm - 2.3mm

界面USB 2.0

传感器类型硅

兼容的光源CW，脉冲 >25kHz

功率范围~10nW - ~10W

狭缝尺寸1.8微米

孔径大小3.5毫米

扫描头尺寸83mm

遵守CE、UKCA、中国 RoHS

产品型号：

1. NanoScan 2s Si/9/5

2. NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

3. NanoScan 2s Ge/9/5

4. NanoScan 2s Pyro/9/5

5. .NanoScan 2s Si/3.5/1.8

使用NanoScan的狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪

NanoScan™激光光束轮廓分析仪为您提供所*有的光束测量体验。狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪的优点在于测量光束位置和大小时可获得亚微米精度及NIST可追踪精度。扫描头配置包括硅、锗或热释电版本，可用于广泛的波长和激光功率范围。NanoScan软件可提供两种版本：标准版和业版，并且包括广泛的ISO定量测量和M2向导，并能测量激光功率。

深圳市奥德赛创精密仪器有限公司，业代理日本NMB、德国PTL、德国WAZAU、德国NOVO、日本SSS、日本M-SYSTEM、日本noiseken、日本东、日本Liniax、日本TEAC、日本FUJI富士、日本Magnescale（原SONY）、日本志贺SIGA、日本ASANHI KEIKI旭计器、英国RDP、英国SETech、美国AST、美国MSP、美国ED&D、美国MEAS、美国MONROE、色列OPHIR,日本椿本、等杰出品牌检测仪器。我司有能力及时向用户提供高质量的产品和优良的售后服务，为保证上等及时效劳实现，我司有工作丰富的工程师队伍，对用户采购的产品提供一线售后技术支持。欢迎广大用户来电咨询，我司将竭诚为您服务，谢谢！

原创作者：深圳奥德赛创精密仪器有限公司

标签：NanoScan 2s Si/3.5/1.8 小光束轮廓分析仪 光束轮廓分析仪

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